聯(lián)系我們DM2100型X熒光多元素分析儀已申請專利,仿冒必究
本公司新近推出經(jīng)改進的不含同位素放射源的DM2100型X熒光多元素分析儀已申請專利，申請日：2006年4月10日，發(fā)明專利申請?zhí)枺?/span>200610025556.1，實用新型專利申請?zhí)枺?/span>200620040917.5。任何單位和個人均不得仿冒生產(chǎn)，違者將追究其法律責任。
DM2100型X熒光多元素分析儀是在同檔次中唯一得到廣大用戶認可的，能同時測量Al、Si、Ca、Fe的X熒光多元素分析儀。目前用戶已達數(shù)百家，均反映良好。現(xiàn)為適應形勢需要，對原來的儀器進行了改進，不用同位素放射源，完全采用X光管作激發(fā)源。并經(jīng)數(shù)家用戶使用，均反映比原來的儀器精度更高，效果更好。
上海愛斯特電子有限公司
2006年4月30日
